沈降法を利用した新型のゼ-タ電位測定装置

keywords.jpg粉体工学,分級,標準粒子,数値シミュレーション 

吉田 英人 

HIDETO YOSHIDA

division.jpg工学研究院 物質化学工学部門 化学工学講座

position.jpg教授

共同研究者 : 福井国博教授

研究概要

研究の背景

粉体の粒子径の測定では、沈降法が広く利用されています。
私の研究室では全自動型の沈降天秤法を開発しました。この装置は粉体の粒子径測定及び液中粒子のゼ-タ電位の測定が精度良く計測できます。

研究内容

従来の沈降天秤法は測定において若干操作が煩雑でありまた良いデ-タを得るためには熟練を要する問題点がありました。
筆者らの研究室では、計測において個人差が入りにくい全自動型の沈降天秤法を開発しました。
またこの装置を利用することで、粒子のゼ-タ電位の計測も可能です。

成果

粉体の粒子径が1から100ミクロンに分布する場合の粒子径分布の計測が可能です。また本法での測定結果は顕微鏡法の測定結果と良く一致しています。
さらに粒子のゼ-タ電位の計測も可能であり、またゼ-タ電位の粒子径依存性を推算することが可能です。

実用化に向けて(想定業界・用途、課題、企業への期待など)

粉体を扱う各種の工業分野、医薬、食品及び半導体関連分野において広く利用されることが期待されます。

本研究の特徴・優位性

従来の粒子径測定装置では、デ-タ処理において校正作業が必要です。しかしながら本法での装置ではこの校正作業を必要としません。また従来のゼ-タ電位測定装置ではゼ-タ電位の粒子径依存性を知ることは難しかったのですが、本装置ではこの問題を解決しました。

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Yoshida, H. et al Advanced Powder Technology, 23, 185-190 (2012)
Yoshida, H. et al Powder Technology, 219, 29-36 (2012)

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